合測(ce)實業帶您3分鐘了解涂層測(ce)厚儀校準的常見問(wen)題(ti)

1.什么(me)是校(xiao)準？

在校(xiao)準過(guo)程中，將測(ce)(ce)量設備的(de)讀數與被測(ce)(ce)對象的(de)實際特性(xing)（通常是具(ju)有已知值(zhi)(zhi)的(de)標(biao)準）進行比較。層(ceng)厚(hou)度就是這樣一種特性(xing)。如果剛(gang)剛(gang)測(ce)(ce)量的(de)值(zhi)(zhi)與已知值(zhi)(zhi)有偏差，則必須調整設備。

2.應(ying)該如何進(jin)行校準？

校準(zhun)期間應采用與以后實(shi)際測(ce)(ce)量期間相同的(de)條件。如果要測(ce)(ce)量涂(tu)層的(de)厚度，則(ze)應在未涂(tu)層的(de)原(yuan)始部(bu)件上校準(zhun)設備。對于校準(zhun)，在未涂(tu)層工件上使用與測(ce)(ce)量涂(tu)層零(ling)件時相同的(de)位置。

3.什么時候(hou)應該重(zhong)新校準？

一般來說，只要(yao)測(ce)量(liang)條(tiao)件(jian)發生變化，就應重(zhong)新校準儀器。例(li)如(ru)，如(ru)果基材的(de)成分(fen)(fen)發生變化，或者如(ru)果您從平坦部分(fen)(fen)變為(wei)彎曲部分(fen)(fen)，則可能需要(yao)重(zhong)新校準，具體取決于所使用(yong)的(de)測(ce)量(liang)方(fang)法。

可(ke)能影響測量結果(guo)的常(chang)見(jian)因素。如果(guo)這些(xie)因素之一(yi)發生顯著變化，則應(ying)重新校(xiao)準(zhun)設備：

測量面的曲(qu)率

對于薄試樣(yang)：基材(cai)的厚度(du)

對于小(xiao)樣本：工(gong)件尺寸

粗糙(cao)度(du)

基(ji)材或涂層材料(liao)的成分和磁(ci)化性(xing)

對于電導率測量：溫度(du)

1.快速或廣泛的校準？

在(zai)大(da)多數設備上，您可(ke)以在(zai)快(kuai)速的(de)(de)單(dan)(dan)點校準和全面(mian)的(de)(de)多點校準之(zhi)間進行選擇。如(ru)果(guo)您要測量的(de)(de)值(zhi)非常接近，則(ze)(ze)快(kuai)速變(bian)體通常就足夠了。例(li)如(ru)，如(ru)果(guo)涂(tu)(tu)層的(de)(de)厚度(du)(du)在(zai) 10 到 15 μm 之(zhi)間變(bian)化，則(ze)(ze)使用單(dan)(dan)個 13 μm 標(biao)準來校準設備就足夠了。如(ru)果(guo)厚度(du)(du)范圍較(jiao)大(da)，建議多點校準；目標(biao)值(zhi)應(ying)結束預期的(de)(de)涂(tu)(tu)層厚度(du)(du)范圍。詳情咨詢我們(men)合(he)測實業 ！